Spektrometr SPECTROLAB S– Rewolucja w prawdziwym sensie analizy metali wysokiej klasy

• Wysoka dokładność w ciągu 20 sekund (np. stal niskostopowa)

• 8-krotnie mniejsze obciążenie regularną konserwacją (czyszczenie stołu)
• Średnia granica wykrywania pierwiastków jest dwukrotnie poprawiona w stali niskostopowej, średnia granica wykrywania pierwiastków jest pięciokrotnie poprawiona w czystym aluminium
• Zmniejszenie powierzchni urządzeń o 27%

• Standardyzacja całego systemu dzięki pojedynczej próbce pozwala zaoszczędzić 30 minut pracy dziennie

Jako lider w dziedzinie innowacyjnych technologii łuku/iskry od ponad 40 lat SPECTRO poświęca się rozwojowi wiodącego na świecie spektrometru emisyjnego. Dzisiaj firma Spike doskonale wprowadziła technologię detektorów CMOS, co rewolucyjnie zmieniło kierunek i przyszłość zaawansowanej technologii analizy łuku/iskry. SPECTROLAB S oferuje ponad wyobrażalną szybkość analizy wśród wszystkich analizorów swojej klasy, ograniczenia wykrywania pierwiastków są bardzo niskie, a także zapewnia bardzo długi czas pracy i bardzo przyszłościową elastyczność.

SPECTROLAB S posiada pierwszy na świecie system rejestrowania detektorów opartych na CMOS, idealnie nadający się do analizy metali wysokiej klasy. Od pierwiastków śladowych po zastosowania wielomatrysowe, oferuje wyjątkowo szybkie, bardzo dokładne i niezwykle elastyczne rozwiązania techniczne.

Prędkość analizy próbek jest ważnym wskaźnikiem zaawansowaności instrumentów, a wprowadzenie SPECTROLAB S w pełni spełnia zapotrzebowanie na prędkość na rynku analizy metali. Na przykład: podczas wykrywania stali niskostopowej może zapewnić wysoką dokładność pomiarów w ciągu 20 sekund lub mniej!

Pod względem wskaźników technicznych i praktycznych efektów użytkowania, SPECTROLAB S jest obecnie optymalnym, wysokowydajnym spektrometrem w hutni metali. Rozwiązania, które oferuje, są równie doskonałe dla producentów przetwarzania metali, producentów samochodów i lotnictwa, jak również dla producentów produktów gotowych i półgotowych, elektroniki i półprzewodników.